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光电耦合器的数字万用表检测法 ......
使用单时基电路NE555构成的电平测试电路 ......
使用电压比较器LM324组成的电平测试电路如图所示为使用电压比较器LM324组成的测试电路。其特点是便于检测阈值电平的调整，可测试DTL、TTL、CMOS等多种逻辑电平。由电压比较器的原理可知：当同相输入端(正端)电压高......
通过点亮小数点dp指示开路(未测试)状态的电平测试电路如图所示为通过点亮小数点dp指示开路(未测试)状态的电平测试电路。高电平时VT导通，显示H；低电平时VT截止，7402的1脚为高，显示L；探针开路时，7402的2、3......
通过电阻Rl～R4设置不同的高低电子检测阈值的电平检测电路如图所示为通过电阻R1～R4设置不同的高、低电子检测阈值的电平检测电路。阈值电压可由分压公式算得，按图示R1～R4取值时，9脚高电平阈值为2.3V，5脚低电平阈值......
CMOS与非门4011接成反相器组成的电平测试电路如图为使用CMOS与非门4011接成反相器组成的电平测试电路。在该电路中，也可用非门代替4011。高电平显示H，低电平显示L。由于R2～R4已起限流作用，因此数码管及其阳......
晶体管和共阴极数码管组成的测试电路如图所示电路，正电源Vcc和地端GND用夹子与被测电路相连，UIN端通过探针接被测点。当被测点为高电平时，VT1导通，h、c、g笔段为高电平并发光，同时经隔离管VD1使e、f笔段也发光，......
使用TTL或非门接成反相器构成的电平测试电路使用TTL或非门接成反相器，配用共阴极数码管，高电平显示1，低电平显示0。其电路如图所示。 ......
TTL六非门7404组成的电平测试电路如图所示为使用TTL六非门(或称反相器)7404组成的测试电路。由于TTL(CMOS亦同)电路有确定的高、低电平输入阈值电压，因此无需另外设置或调整，测试结果非常精确。输人端的两个非......
用于测量照射强度很小的电路 ......
dolphin 2017-03-10
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