双向可控硅的测量(晶闸管测量) 发布人:fanxiaoxi 时间:2023-02-16 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 1.用指针式万用表电阻档测量可控硅阳极和阴极之间是否短路,一般情况下双向可控硅阳极和阴极之间的电阻在数十千欧以上,如用万用表测量时已短路或电阻已小于10千欧以下,可判断可控硅已击穿损坏。 2.用万用表分别测量双向可控硅触发极与阴极之间的电阻值,一般再几欧至百十欧以内的正常,触发极与阳极之间的电阻值,一般再十千欧以上为正常。
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