芯片结温测量电路

芯片结温测量电路
直接测试集成电路（ IC ）温度的简单办法是利用器件的输人保护二极管作为溢度敏感器。静态放电保护二极管在大部部芯片的输人结构中有着共同的特性，它们在 IC 上的位置非常适合作为温度敏感器。
图 18 所示就是 CMOS IC 的典型输人结构和测试步骤，一只保护二极管通过电流源并加上大于 VDD 的电源，就可达到前向偏置功能。如果选择的输人关系到逻辑高电平，则在测器件能完全运转，对于逻辑低电平输人，它代替了电流交换器并找到了一个小于 VSS的电压，其它 lC 工艺技术包括具有可以被接受的二极管结构。


值得注意的是，当输人保护二极管被驱动或导通时，旧式CMOS IC遭受寄生 SCR 的闭锁作用，而导致灾难性的结果。现代 CMOS 的设计采用输人二极管传导几十毫安或更大电流，避免了闭锁作用。
也要谨防来自邻近引脚和接地反跳的噪声、串音等引起的干扰，另外，芯片上的最热点不应该处在连接头附近，否则其温度可能会高于其它位置。