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IO口扫键应用电路设计盘点TOP6 —电路图天天读(253)

作者:dolphin时间:2017-04-10

  在做项目工程的时候,我们经常要用到比较多的按键,而且IO资源紧张,于是我们就想方设法地在别的模块中节省IO口,好不容易挤出一两个IO 口,却发现仍然不够用,实在没办法了就添加一个IC来扫键。一个IC虽然价格不高,但对于大批量生产而且产品利润低的厂家来说,这是一笔不菲的开支!那么,我们能不能想到比较好的扫键方法:用最少的IO口,扫最多的键?可以吗?

  举个例:给出5个IO口,能扫多少键?有人说是2*3=6个,如图一:

  

  对,大部分技术参考书都这么做,我们也经常这样做:用3个IO口作行扫描,2个IO作列检测(为方便描述,我们约定:设置某一IO口输出为 “0”――称其为“扫某IO口”)。用行线输出扫键码,列线检测是否有按键的查询方法进行扫键。扫键流程:在行线依次输出011,101,110扫键值,行线每输出一个扫键值,列线检测一次。当列线检测到有按键时,结合输出的扫键值可以判断相应的按键。但是,5个IO真的只能扫6个键吗?有人说可以扫9个,很聪明!利用行IO与地衍生3个键(要注意上拉电阻),如图二:

  

  扫键流程:先检测3个行IO口,对K1’,K2’,K3’进行扫键,之后如上述2*3扫键流程。5个IO口能扫9个键,够厉害吧,足足比6个键多了1/2!动动脑,还能不能再多扫几个?就几个?一个也行!好,再想一下,硬是被逼出来了!如图三:

  

  不多不少,正好10个键!这种扫键方式比较少见吧!漂亮!扫键流程:设IO1输出为“0”,检测IO2…IO5,若判断有相应健按下,则可知有健;若无键,则继续扫键:设IO2输出为“0”,检测IO3,IO4,IO5,判断有无键按下,如此类推。这里应注意:当扫某一IO口(输出为“0”)时,不要去检测已经扫过的IO口。如:此时设置IO2输出为“0”,依次检测IO3,IO4,IO5,但不要去检测IO1,否则会出错(为什么,请思考)。感觉怎么样?不错吧!让我们再看看图三,好有成就感!看着,看着……又看到了什么?快!见图四:

  

  真强!被您看出20个键!多了一个对称的三角形。可是,像这样的排列能正确扫20个键吗?回答是肯定的:不能!上下三角形相互对称,其对称扫出的键无法区别。有没有注意到分析图三时提到的注意点?(à“当扫某IO口时,不要去检测已经扫过的IO口,否则会出错”)



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